On the reliability of minority carrier injection DLTS spectra

Dózsa, László (1986) On the reliability of minority carrier injection DLTS spectra. PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH, 94 (2). pp. 735-743. ISSN 0031-8965

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Abstract

The effect of switching transient on minority carrier injection DLTS spectra is analysed. The deep level charge state after the transient is sensitive to the electrical circuit and sample parameters such as series resistance, injection level, reverse bias, etc. Numerical calculations are carried out and analytical solutions are given for special cases. The transient causes nonuniform charge state distribution in the depleted region when the capture time constant of the majority carriers is not considerably larger than the minority carrier lifetime in the material. Simple thumb rules are given for the estimation of the effects. The conditions of the appropriate excitation are discussed in the light of the obtained results. Der Einfluß des Schaltübergangs auf die Minoritätsträgerinjektions-DLTS-Spektren wird analysiert. Der Ladungszustand des tiefen Niveaus nach dem Übergang ist empfindlich gegenüber der elektrischen Schaltungs- und Probenparametern, wie Serienwiderstand, Injektionsniveau, Vorspannung usw. Numerische Berechnungen werden ausgeführt und analytjsche Lösungen für spezielle Fälle angegeben. Der Übergang verursacht eine ungleichförmige Ladungszustandsverteilung im Verarmungsbereich, wenn die Einfangzeitkonstante der Majoritätsträger nicht beträchtlich größer als die Minoritätsträgerlebensdauer in dem Material ist. Einfache Regeln für die Berechnung der Effekte werden angegeben. Die Bedingungen einer geeigneten Anregung werden mit den erhaltenen Ergebnissen diskutiert.

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