  |
Items where Author is "Lohner, Tivadar"
Group by: Item Type | No Grouping Number of items: 4. ArticleSerényi, Miklós and Lohner, Tivadar and Petrik, Péter and Frigeri, C. (2007) Comparative analysis of amorphous silicon and silicon nitride multilayer by spectroscopic ellipsometry and transmission electron microscopy. Thin Solid Films, 515 (7-8). pp. 3559-3562. ISSN 0040-6090 MonographFried, Miklós and Lohner, Tivadar and Nguyen, Quoc Khanh (2008) Optikai modellek fejlesztése sokösszetevős anyagrendszerek ellipszometriai vizsgálatához = Optical model development for ellipsometric study of many-compound materials. Project Report. OTKA. Gyulai, József and Arató, Péter and Balázsi, Csaba and Battistig, Gábor and Biró, László Péter and Hárs, György and Lábadi, Zoltán and Lohner, Tivadar and Makkai, Zsolt and Menyhárd, Miklós and Nguyen, Quoc Khanh and Pászti, Ferenc and Petrik, Péter and Ster, András and Tóth, Lajos and Vargáné dr. Josepovits, Katalin (2007) Ionsugaras módszerek a fizikai nanotechnológiában (IONNANO) = Ion beam modifications in near-to-physics nanotechnology. Project Report. OTKA. Dózsa, László and Vo, Van Tuyen and Tóth, Attila Lajos and Somogyi, Károly and Lohner, Tivadar and Szentpáli, Béla (2007) SiC és más nagy tiltott sávú félvezető anyagok kutatása = Research of SiC and other wide band gap semiconductor materials. Project Report. OTKA. |
