Mikroszerkezet karakterizációja röntgen vonalprofil analízis alapján = Characterization of microstructure by X-ray line profile analysis

Ungár, Tamás and Groma, István and Lendvai, János and NGUYEN, QUANG CHINH and Ribárik, Gábor and Szenes, György (2008) Mikroszerkezet karakterizációja röntgen vonalprofil analízis alapján = Characterization of microstructure by X-ray line profile analysis. Project Report. OTKA.

Preview

PDF 46990_ZJ1.pdf Download (1MB)

Abstract

A "" Mikroszerkezet karakterizációja röntgen vonalprofil analízis alapján"" c. T-046990, OTKA pályázat rövid szakmai összefoglalója, zárójelentés A deformációs anizotrópia jelenségét kihasználva részletes elméleti és kísérletes kutatásokat végeztünk a mikroszerkezet kvalitatív és kvantitatív karakterizációjára vonatkozóan köbös, hexagonális és ortorombos kristályrendszerekben a röntgen vonalprofil analízis módszerével. A földkéregben mintegy 100 km-es mélységben fekvő ortorombos MgSiO3 perovszkitokat szimuláló mintát állítottunk elő magas hőmérsékletű nagynyomású présben. Megállapítottuk, hogy csak <100> és <010> Burgers vektorú diszlokációk jönnek létre. 700 és 1000 K közötti hőmérsékleteken összenyomással deformált Ge egykristályokban helyfüggő mikrodiffrakcióval megállapítottuk, hogy a mikroszerkezet jelentős fluktuációkat mutat. [001], [011] és [111] textúrájú NiAl emlékező ötvözet mintákban meghatároztuk a különböző textúra komponensekhez tartozó kemény illetve puha krisztallit populációkban az aktív Burgers vektor típusokat valamint diszlokációsűrűségeket. Golyósmalomban őrölt alkáli földfém fluoridok krisztallitméret és diszlokációsűrűség meghatározása során felfedeztük, hogy pormintákban is létrejön röntgen optikai interferencia. Módszert dolgoztunk ki Burgers vektor típusok meghatározására hcp kristályokban. Kidolgoztuk a rétegződési hibák és ikerhatárok gyakoriságának meghatározási módszerét köbös kristályokban. A módszert számos esetben sikeresen alkalmaztuk. | ""Characterization of microstructure by X-ray line profile analysis"" Short summary of the T-046990, OTKA project, final report On the basis strain anisotropy detailed theoretical and experimental work has been carried out for the characterization of the microstructure in cubic, hexagonal and orthorhombic crystal structures by using the method of X-ray line profile analysis. A synthetic orthorhombic MgSiO3 perovskite was prepared the high temperature and pressure. We have found that only <100> and <010> type Burgers vectors are present in the deformed crystals. Ge single crystals were deformed by compression between 700 and 1000 K. Position sensitive microdiffraction has revealed that the deformed microstructure is strongly fluctuating on different length scales. NiAl shape memory alloys with [001], [011] and [111] textures were deformed by compression. We have determined the active Burgers vector types and dislocation densities in the different texture components for different grain orientation populations. Alkali-halide fluorides were ball milled to different extent. We have shown that X-ray optical interference can occur in nanocrystalline powder specimens. A method has been worked out to determine active Burgers vector types in hexagonal crystal systems, and the frequency of stacking faults and twin boundaries in cubic crystals. The methods have been applied successfully in several different cases.

Actions (login required)

Edit Item