Csúszási rendszerek, Burgers vektor és rétegződési hibák meghatározás köbös, ortorhombos és hexagonális rendszerekben a röntgen vonalprofil analízis módszere alapján = Active slip-systems, Burgers vectors and twinning in hexagonal, cubic and ortorhombic systems determined by X-ray line profile analysis

Ungár, Tamás and Balogh, Levente and Borbély, András and Gubicza, Jenő and Lendvai, János and Ribárik, Gábor and Szenes, György and Tichy, Géza (2013) Csúszási rendszerek, Burgers vektor és rétegződési hibák meghatározás köbös, ortorhombos és hexagonális rendszerekben a röntgen vonalprofil analízis módszere alapján = Active slip-systems, Burgers vectors and twinning in hexagonal, cubic and ortorhombic systems determined by X-ray line profile analysis. Project Report. OTKA.

Preview

PDF 71594_ZJ1.pdf Download (1MB) | Preview

Abstract

Polikristályos Ti mintában, krisztallitonként kiértékelve a szinkrotronos diffrakciós vonalprofilokat, meghatároztuk az egyes krisztallitokban a legvalószínűbb csúszási rendszereket. Krisztallitonként meghatároztuk a legvalószínűbb diszlokációkat az MgGeO3 poszt-perovszkitban. A mintát gyémánt cellában 90 GPa nyomással melegítés közben vittük a poszt-perovszkit fázisba. A Co-Ti és Co-Zr ötvözeteken méréseket végeztünk a Chicago-i APS szinkrtorton mellett az 1-ID szinkrotron nyalábbal. Ezzel áttörést sikerült elérni az itt fejlesztett egykristály-diffrakció polikristályos-aggregátumon módszerben. Az Co-Ti és Co-Zr ötvözet rendszerek eredményeinek mind a végső kiértékelése mind a publikálása túlmutatnak a jelen OTKA projekt keretein és jelenleg még folyamatban vannak. Új módszert dolgoztunk ki erőteljesen textúrált mintákban a különböző textúra komponensek mikroszerkezetének kísérletes meghatározására. Erőteljesen textúrált Cu-Nb nanokristályos multirétegekben meghatároztuk a diszlokáció és ikerhatár sűrűséget a rétegvastagság és a hengerlés függvényében. Nanokristályos Cu vékonyrétegben meghatároztuk a diszlokáció sűrűségeket és a nanoikerhatár távolságokat a porlasztott és a hengerelt állapotokban. Meghatároztuk különböző textúrájú Ni vékonyrétegek diszlokáció és ikerhatár sűrűségét a különböző textúra komponensekben. Meghatároztuk egy extrudált Mg ötvözetben a diszlokáció sűrűségeket a különböző textúra komponensekben. Az OTKA szám feltüntetésével 27 cikket publikáltunk. | We determined the most likely slip systems in the individual grains of polycrystalline Ti and MgGeO3 post-perovskite from line profiles measured in polycrystalline aggregates at the ESRF synchrotron in Grenoble. The post-perovskite phase was attained in a diamond-anvil-cell during heating. We did synchrotron measurements on the Co-Ti and Co-Zr alloys at the 1-ID beamline at the APS in Chicago. With the evaluation of these data we could achieve a breakthrough in the processing of the complex and several tens of gigabit data of such experiments. We developed a novel method to evaluate the substructure in the different texture components of strongly textured materials. This we applied to extruded Mg, to Ni thin films and several different types of multilayers of Cu-Nb and thin films with nanotwins. We worked out the procedure for the determination of twinning on the pyramidal and prismatic planes in hexagonal materials from X-ray line broadening. We published 27 research papers with indicating the OTKA-71594 number.

Actions (login required)

Edit Item